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    DSPEC jr 2.0數(shù)字信號處理γ射線譜儀

    • 產(chǎn)品型號:
    • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 更新時間:2025-07-25
    • 訪  問  量:27

    簡要描述:創(chuàng)新的ZDT無損計數(shù)校正

    在線咨詢

    聯(lián)系電話:021-54339375

    產(chǎn)品詳情
    DSPEC jr 2.0 Digital Signal Processing (DSP) based Gamm Ray Spectrometer for Germanium (HPGe) Radiation Detectors
    • 創(chuàng)新的ZDT™“無損計數(shù)”校正,包括與ZDT譜相關(guān)的不確定性
    • 使用低頻噪聲抑制器(LFR)技術(shù)提高譜質(zhì)量
    • 自動化 - 通過集成的換樣器接口控件提高實驗室工作效率
    • 易于設(shè)置的功能包括自動極零、自動基線恢復(fù)和“優(yōu)化”功能
    • 前面板顯示探測器狀態(tài)和“健康狀況”信息 - SMART-1™智能HPGe支持
    • 安裝簡單,真正的USB即插即用
    • 出色的溫度和計數(shù)率穩(wěn)定性
    • 每個功能都可由計算機(jī)控制
    • 支持HPGe和NaI輻射探測器
    • 資料 +

      • Download link DSPEC JR 2.0宣傳冊
      • Download link DSPEC JR 2.0宣傳冊(A4)
      • Download link DSPEC JR 2.0手冊
    • 更多信息 +


      零死時間(ZDT) - 無損計數(shù)校正
      計數(shù)率變化太快?需要計算不確定性?ZDT是您的!

      ZDT是傳統(tǒng)活時間擴(kuò)展的替代方案,可以校正死時間。它尤其適用于計數(shù)率在采集期間顯著衰減的應(yīng)用(如中子活化分析),或者在長時間采集過程中活度激增的應(yīng)用(如堆棧監(jiān)測中的熱粒子情況)。

      活時間時鐘可延長電子設(shè)備的計數(shù)時間,以補(bǔ)償死時間。無損計數(shù)方法,如我們的ZDT,在系統(tǒng)處理其他脈沖時校正那些計數(shù)“丟失”譜中的實際計數(shù)數(shù)量。ZDT方法使用ORTEC高度精確的Gedcke-Hale時鐘來確定在電子設(shè)備“死”時間內(nèi)應(yīng)添加多少事件。

      在ZDT模式下,DSPEC jr 2.0自動存儲校正后的譜和方差譜。這兩種譜也可存儲在ORTEC SPC格式的文件結(jié)構(gòu)中,以便在將來進(jìn)行比較。用戶可以通過GammaVision和MAESTRO中的簡單菜單命令輕松切換校正和未校正的譜。

      ORTEC ZDT模式包括不確定性的估計算法,進(jìn)一步完善了我們的ZDT方法。其他“無損計數(shù)”方法無法計算與計數(shù)(被添加到譜的這部分)相關(guān)的不確定性,而DSPEC jr 2.0中的ZDT模式可以同時生成校正后的譜和收集數(shù)據(jù)時的不確定性。有關(guān)ZDT的更多信息,請參見應(yīng)用說明56,“使用ORTEC的創(chuàng)新零死時間技術(shù)進(jìn)行不確定性分析的無損計數(shù)”。

      低頻噪聲抑制器數(shù)字濾波器可提高機(jī)械冷卻系統(tǒng)的分辨率!
      LFR旨在消除高純鍺探測器輸出信號中的顫噪噪聲。您期待什么樣的結(jié)果?如果您機(jī)械冷卻系統(tǒng)的分辨率較低,LFR可以顯著提高其分辨率。

      彈道虧損校正
      使用ORTEC的數(shù)字信號處理DSPEC產(chǎn)品系列,無需擔(dān)心彈道虧損問題。在較大的HPGe探測器中,有時會出現(xiàn)所謂的彈道虧損效應(yīng)。這通常會導(dǎo)致較差的分辨率,對于高能量峰值尤為嚴(yán)重。在模擬系統(tǒng)中,彈道虧損通常使用門控積分放大器或通過分辨率增強(qiáng)器模塊進(jìn)行校正。然而,在數(shù)字系統(tǒng)中,只需對數(shù)字濾波器的平頂寬度進(jìn)行簡單調(diào)整即可。

      使用DSPEC jr 2.0中的InSight模式,操作員可以調(diào)整平頂寬度(和傾斜度),并立即看到信號處理的效果。在大多數(shù)情況下,對于非常大的探測器(例如本例中使用的效率為207%的探測器?。?,0.8 μs的平頂設(shè)置足以恢復(fù)出色的分辨率。

      簡單的整形參數(shù)設(shè)置
      DSPEC jr 2.0可幫助您保持對數(shù)字系統(tǒng)的控制。上升時間和平頂寬度調(diào)整功能使您能夠根據(jù)應(yīng)用“微調(diào)”譜儀的性能。優(yōu)化分辨率和處理量從未如此簡單!

      在DSPEC jr 2.0中,除了傾斜參數(shù)外,還有112個上升時間(從0.8到23 μs,以0.2為增量)和22個平頂寬度(從0.3到2.4 μs,以0.1為增量),可為您提供超過2,000種參數(shù)組合。

      盡請放心。.. 我們?nèi)匀辉诳刂泼姘逯刑峁┳詣?ldquo;優(yōu)化”功能,以便您選擇最合適的參數(shù)!這意味著只需輕點鼠標(biāo)即可改善探測器的分辨率和處理量。

      SMART-1™支持質(zhì)量數(shù)據(jù)
      ORTEC的SMART-1探測器非常智能。它們監(jiān)測和存儲探測器的“健康狀態(tài)”(探測器溫度、前置放大器功率、偏壓超量程、偏壓開/關(guān)狀態(tài))。DSPEC jr 2.0的單次檢查將驗證探測器是否準(zhǔn)備就緒以及準(zhǔn)備好進(jìn)行采集。在采集過程中,SMART-1探測器持續(xù)監(jiān)測“健康狀態(tài)”(SOH),以確保采集數(shù)據(jù)的完整性。在采集結(jié)束時,將快速檢查SMART-1探測器中的SOH標(biāo)記,然后顯示測量期間是否有任何參數(shù)偏離規(guī)范。這對于需要進(jìn)行長時間計數(shù)的環(huán)境樣品和需要數(shù)據(jù)完整性的監(jiān)管樣品來說至關(guān)重要。

      另一大優(yōu)勢是SMART-1探測器在出廠時已預(yù)設(shè)推薦的偏壓值。您不再需要查看手冊或探測器上的標(biāo)簽以設(shè)置正確的偏壓值。只要打開DSPEC jr 2.0,SMART-1探測器會自動檢測探測器溫度,確定正確的高壓偏壓并將其打開。

      與探測器的便捷單根電纜連接
      DSPEC jr 2.0使用的ORTEC DIM(探測器接口模塊),僅用一根電纜連接DSPEC jr 2.0和探測器。DIM提供接近探測器的偏壓,以便在電纜中僅承載信號和低壓電源。由于長電纜承載高電壓可能造成的危險現(xiàn)已被消除。

      顯示重要參數(shù)
      DSPEC jr 2.0在前面板LCD顯示屏上顯示重要的系統(tǒng)參數(shù)。DSPEC jr 2.0將顯示儀器ID、名稱、序列號、預(yù)設(shè)計數(shù)條件、當(dāng)前活時間和實時間、死時間百分比、輸入計數(shù)率、HV狀態(tài)和值,以及SMART-1探測器的序列號。

      小巧
      DSPEC jr 2.0的占地面積與臺歷相當(dāng),可以直接放在桌面上。輕巧又結(jié)實的多個DSPEC jr 2.0可以疊放在一起,它們的外殼互鎖,不用擔(dān)心滑動或傾斜。

      與現(xiàn)有的MCB隨意組合
      ORTEC CONNECTIONS軟件支持連接到任何計算機(jī)上的任何組合和數(shù)量的USB設(shè)備。例如,兩個digiDART可以使用USB集線器與兩個DSPEC jr 2.0一起連接到同一臺PC。任何數(shù)量的其他ORTEC MCB都可以通過網(wǎng)絡(luò)、打印機(jī)端口、RS-232或雙端口內(nèi)存連接到同一系統(tǒng)。

      添加換樣器
      如果您準(zhǔn)備使用集成的換樣器自動化您的流程,DSPEC jr 2.0由于具有內(nèi)置的換樣器接口和控件可滿足您這一需求。

      ...還是像往常一樣容易設(shè)置!
      DSPEC儀器易于設(shè)置和使用。采用智能MCA控制,無需手動配置,甚至不需要所謂的向?qū)?。您只需安裝軟件(如GammaVision或MAESTRO),軟件“知道”所需顯示的控制面板。面板的表格式設(shè)計對DSPEC jr 2.0上的可用控件和功能進(jìn)行了邏輯分組。

      DSPEC jr 2.0包括ORTEC的數(shù)字自動極零電路、數(shù)字自動基線恢復(fù)和優(yōu)化功能,可為當(dāng)前連接到DSPEC jr 2.0的探測器選擇平頂/傾斜設(shè)置,從而使譜測量系統(tǒng)的設(shè)置和優(yōu)化變得異常簡單。

      當(dāng)然,我們產(chǎn)品創(chuàng)新性的一個特點是InSight™,即內(nèi)置虛擬數(shù)字示波器。使用InSight功能,您可以輕松查看更改平頂寬度、基線恢復(fù)設(shè)置的效果或檢查彈道虧損校正的效果(請參閱側(cè)欄)。不再需要一個沉重和麻煩的外部示波器。不需要特殊的軟件。只需打開控制面板并打開InSight模式即可。

    • 規(guī)格 +


      顯示

      240 x 160像素背光LCD提供狀態(tài)信息、儀器ID、偏壓信息、活時間和實時間。

      并發(fā)連接數(shù)

      受計算機(jī)和支持USB集線器的限制。每臺計算機(jī)上的ORTEC CONNECTIONS軟件最多支持127個通過USB連接的設(shè)備。

      系統(tǒng)增益設(shè)置

      粗調(diào)增益:12、48、1632。
      微調(diào)增益:0.451。
      可用的增益設(shè)置范圍支持所有類型的HPGe探測器。具體而言,使用標(biāo)準(zhǔn)ORTEC前置放大器(增益到最小增益)可實現(xiàn)以下能量值:

      COAX

      187 keV12 MeV

      LO-AX

      94 keV6 MeV

      GLP/SLP

      16.5 keV1 MeV

      IGLET-X

      8 keV500 keV

      前置放大器

      計算機(jī)可選擇作為電阻或TRP前置放大器。

      系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益

      系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益可由軟件在51216k通道之間進(jìn)行控制。

      數(shù)字濾波器整形時間常數(shù)

      上升時間:0.8 μs23 μs,步長為0.2 μs。
      平頂:0.32.4,步長為0.1 μs。

      死時間校正

      根據(jù)Gedcke-Hale方法進(jìn)行擴(kuò)展的活時間校正。

      精度

      參考區(qū)域峰值在每秒050,000的計數(shù)范圍內(nèi)變化<±3%。

      低頻噪聲抑制器

      設(shè)置為ON時,將消除譜中的低頻(<3 kHz)輸入噪聲。

      線性

      積分非線性:用混合源(55Fe @ 5.9keV88Y @ 1836keV)測量,在譜的前99.5<±0.025%。
      微分非線性:在范圍的前99<±1%(使用BNC脈沖發(fā)生器和斜坡發(fā)生器測量)。
      數(shù)字穩(wěn)譜器:通過計算機(jī)控制,穩(wěn)定增益和。

      系統(tǒng)溫度系數(shù)

      增益:<50 ppm/°C。[通常<30 ppm/°C]
      偏移:<滿量程的3 ppm/°C,上升和下降時間為12 μs,平頂為1 μs。(類似于模擬6 μs整形。)

      系統(tǒng)處理量

      LFR關(guān)閉時>100,000 cps。LFR開啟時>34,000 cps。取決于整形參數(shù)。

      脈沖堆積判棄器

      自動設(shè)置閾值。

      脈沖對分辨率

      通常<500 ns。

      自動極零調(diào)整

      由計算機(jī)控制??梢宰詣踊蚴謩釉O(shè)置。通過InSight示波器模式進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷。()。

      數(shù)字門控基線恢復(fù)器

      由計算機(jī)控制的恢復(fù)率調(diào)整(高、低和自動)。()。

      LLD

      在通道中設(shè)置數(shù)字低電平甄別器。LLD設(shè)置以下的通道中的數(shù)據(jù)硬截斷。

      ULD

      在通道中設(shè)置數(shù)字高電平甄別器。ULD設(shè)置以上的通道中的數(shù)據(jù)硬截斷。

      計數(shù)率表

      MCA/PC屏幕上顯示計數(shù)率。

      電池

      內(nèi)置電池用于內(nèi)存?zhèn)浞?,可在電源中斷時保存設(shè)置。







































      輸入端和輸出端

      探測器

      多針連接器(13W3),具有以下功能:
      前置放大器功率:1 W+12 V,-12 V,+24 V,-24 V,2 GND)。
      Amp In:正常放大器輸入。
      TRP抑制。
      SMART-1DIM的電源。
      HVSMART-1探測器的控件(2線)。

      USB

      用于PC通信的通用串行總線。

      電源

      直流電源供電。+12 V DC, <1.25 A. 115 V/60 Hz, 220 V/50 Hz。



       

       

       

       

       

       

      電氣和機(jī)械

      換樣信號輸出端

      后面板BNC連接器,與TTL兼容。

      換樣就緒輸入端

      后面板BNC連接器,接受來自換樣器的TTL電平信號。軟件可選擇極性。

      尺寸

      8.1 x 20.3 x 24.9深厘米(3.2 x 8 x 9.8深英寸)

      重量

      1.0千克(2.2磅)

      工作溫度范圍

      050°C,包括LCD顯示屏。












      輻射探測器高壓電源

      SMART-1

      HV模塊與輻射探測器本身為一體式結(jié)構(gòu)。

      SMART-1

      對于“傳統(tǒng)”或“非SMART-1”探測器,HV電源采用探測器接口模塊或帶2米電纜的“DIM”形式。DIM有一個用于傳統(tǒng)探測器電纜套件的配套連接器:9D型前置放大器電源線、模擬輸入、關(guān)閉輸入、偏壓輸出和禁止輸入。

      SMART-1探測器的DIMS可配備以下高壓選項:
      DIM-POSGE:用于任何非SMART-1正偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊。
      DIM-NEGGE:用于任何非SMART-1負(fù)偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊。
      DIM-POSNAI:用于任何正偏壓NaI探測器的探測器接口模塊。
      DIM-296:帶有296ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測器接口模塊,用于帶有1410級光電倍增管的NaI探測器。

      前面板顯示屏

      在所有情況下,偏置電壓和關(guān)閉極性都從計算機(jī)上進(jìn)行設(shè)置。DSPEC jr 2.0可以監(jiān)控輸出電壓和關(guān)閉狀態(tài);探測器高壓值(只讀);和探測器高壓狀態(tài)(開/關(guān))(讀/寫),這些都顯示在前面板LCD上。此外,SMART-1探測器通過監(jiān)控以下功能提供額外的“健康狀態(tài)”信息:探測器溫度(只讀);探測器過載狀態(tài);探測器驗證碼(讀/寫);和探測器序列號(只讀)。




















    • 訂購信息 +


      型號

      描述

      DSPEC jr 2.0

      MAESTRO軟件、無DIMDSPEC jr 2.0,用于配備有SMART-1的探測器。

      DSPEC jr 2.0-POSGE

      MAESTRO軟件和DIM-POSGEDSPEC jr 2.0,用于非SMART-1探測器。

      DSPEC jr 2.0-NEGGE

      MAESTRO軟件和DIM-NEGGEDSPEC jr 2.0,用于非SMART-1探測器。

      DSPEC jr 2.0-POSNA

      MAESTRO軟件和DIM-POSNAIDSPEC jr 2.0,用于NaI探測器。

      DSPEC jr 2.0-296

      MAESTRO軟件和DIM-296DSPEC jr 2.0,用于NaI探測器。

       

       

      其他DIM

       

      DIM-POSGE

      用于任何非SMART正偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊

      DIM-NEGGE

      用于任何非SMART負(fù)偏壓HPGe探測器的探測器接口模塊

      DIM-POSNAI

      用于任何正偏壓NaI探測器的探測器接口模塊

      DIM-296

      帶有296ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測器接口模塊,用于帶有1410級光電倍增管的NaI探測器。

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    地址:上海市閔行區(qū)春光路99弄26號504-505室
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