HPGe輻射探測(cè)器類型和如何進(jìn)行選擇

FWHM分辨率（以keV為單位）@ 指定能量

探測(cè)器系列

典型計(jì)數(shù)
幾何位置

相對(duì)效率
范圍（％）

5.9 keV

122 keV

1332 keV

GEM
P型同軸

點(diǎn)源
大面積源
Marinelli杯

10-150

不適用

0.80-1.30

1.75-2.30

Profile C
P型同軸

點(diǎn)源
大面積源
Marinelli杯

20-175

0.73-1.23

0.85-1.30

1.80-2.30

Profile M
P型同軸

點(diǎn)源
大面積源

20-175

不適用

0.88-1.30

1.80-2.20

Profile S
P型半平面

點(diǎn)源
大面積源

7-65

0.35-0.50

0.65-0.70

1.80-1.90

Profile SP
P型半平面

點(diǎn)源
大面積源

7-50

0.30-0.43

0.59-0.63

1.80-1.90

Profile F
P型半平面

點(diǎn)源
大面積源

7-60

不適用

0.65-0.85

1.80-2.10

GMX
N型同軸

點(diǎn)源
大面積源
Marinelli杯
中子本底

10-100

0.60-1.20

不適用

1.80-2.5

GLP
P型平面

點(diǎn)源
小面積源
定時(shí)測(cè)量

不適用

0.17-0.39

0.48-0.60

不適用

GWL
P型反向
同軸（井）

小體積源
井內(nèi)測(cè)量

90-450毫升
有效體積
（15％-100％相對(duì)效率）

不適用

1.20-1.40

2.10-2.30

應(yīng)用

最合適的探測(cè)器

同步輻射研究；軟X射線研究

GLP

具有復(fù)雜譜的大型環(huán)境樣品

GEM、GEM-F、GEM-M、GEM-C、GEM-S（推薦低本底）

過(guò)濾介質(zhì)、盤狀或瓶狀的環(huán)境樣品

GEM-F、GEM-C、GEM-S、GEM、GMX

小型環(huán)境樣品

GWL（推薦低本底）

高等級(jí)裂變材料/安全保障

SGD、SGD-GEM

中子活化分析

GMX（推薦附加選件）

事故后監(jiān)測(cè)

GEM（推薦附加選件）

康普頓抑制的伽馬能譜測(cè)量

GMX

海上或空中巡查

Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、IDM-200-V

肺部監(jiān)測(cè)

GEM-S、錒系元素-85

測(cè)量射線束或近快速中子場(chǎng)

GMX（推薦使用原位中子損傷退火的專用內(nèi)部加熱器）

廢物分析

Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V

貨運(yùn)/邊境安全

Micro-Detective、Detective-EX、Detective-DX、Detective-200、IDM-200-P、IDM-200-V

原位環(huán)境譜分析

Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V