上海納優(yōu) 低對比度細節(jié)檢測模體

產品型號：NY-103
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-02-18
訪問量：1503

簡要描述：NY-103低對比度檢測模體

產品簡介

NY-103低對比度檢測模體

1.滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設備質量控制檢測規(guī)范》

2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和透視機的低對比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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產品詳情

NY-103低對比度檢測模體

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滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設備質量控制檢測規(guī)范》

2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和透視機的低對比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和透視機的低對比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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2.低對比度檢測模體用于檢測X光機和透視機的低對比分辨力。

3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板，兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。

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